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  • 2D X射线成像和3D 计算机断层扫描(CT)成像分别有什么优势?

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    2D X射线成像:主要用于PCB组装缺陷检测,因为它可以同时观察PCB的所有层。这项技术是无损的,允许对任何无法通过显微镜、AOI或其他“表面”检测方式检查焊点的组件进行焊接质量检查。这些组件包括但不限于 BGA、LGA 和 QFN。因此,2D X 射线成像主要用于查找焊料桥接、焊料空洞以及进行焊料空洞的面积计算。

    3D 计算机断层扫描 (CT) 成像:用于对整个 PCB 及其组件进行定性和定量缺陷分析。CT可以单独解析PCB的每一层,因此可以在PCB本身内检测到断开、分层和其他缺陷。CT 还允许对组件及其内部工作原理(例如键合线)进行全 3D 渲染。CT工艺要求将样品夹在主轴上并旋转360度,同时保持在X射线管上方,因此最适合用于小型,重量轻的样品。


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